Klasifikacija leća specijalnih objektiva za metalurški mikroskop
1, s korekcijskim prstenastim objektivom (Correctioncollarobjective): u sredini objektiva leća je opremljena prstenastim prstenom za podešavanje, kada se okreće prsten za podešavanje, može se podesiti unutar leće objektiva između udaljenosti između skupine leća, tako da ispraviti debljinom pokrovnog stakalca nije standardna pokrivenost uzrokovana razlikom. Prsten za podešavanje na ljestvici može biti od 0.11-.023, u ovojnici leće objektiva također je označen ovim brojem, što znači da se pokrovno staklo može korigirati od 0.{ {5}}.23 mm debljine između pogreške.
2, s objektivom s preljevnom dijafragmom (Irisdiaphragmobjective): u gornjem dijelu cijevi leće objektiva opremljenog preljevnom dijafragmom, vanjska strana se također može rotirati za podešavanje prstena, rotiranjem veličine otvora dijafragme može se prilagoditi, ova struktura leća objektiva je objektiv uronjen u ulje, njegova uloga je detektirati tamno vidno polje kada pozadina vidnog polja nije dovoljno tamna, što rezultira smanjenjem kvalitete mikroskopije. U to vrijeme prilagodite veličinu dijafragme, tako da pozadina postane tamnija, tako da objekt koji se ispituje bude svjetliji, kako bi se pojačao učinak mikroskopije.
3, fazni kontrastni objektiv (Phasecontrastobjective): ovaj se objektiv koristi za fazni kontrastni mikroskopski poseban objektiv, koji je karakteriziran žarišnom ravninom leće objektiva opremljenom faznom pločom.
4, bez pokrovnog objektiva (Nocoverobjective): neki od objekata koji se ispituju, vrh se ne može dodati pokrovnim stakalcem, tako da se u mikroskopskom pregledu treba koristiti bez pokrovnog objektiva, inače će kvaliteta slike biti značajno smanjena, posebno u mikroskopiji s velikim povećanjem očiglednija je. Ova leća objektiva često je ugravirana na ljusci NC, istovremeno na mjestu debljine pokrovnog stakalca bez riječi 0.17, ali s ugraviranim "0".
5, objektiv na velikoj radnoj udaljenosti: žarišna duljina ovog objektiva veća je od običnog objektiva, dizajniran je za susret s tekućim materijalom (metalografija visoke temperature), tekućim kristalima, kulturom tkiva, suspenzijom i drugim materijalima dizajniranim za mikroskopiranje.
