Duboki fokus za imerzijsku i STED mikroskopiju
Duboko fokusiranje objektiva visoke NA proizvodi manji PSF (funkcija širenja točke), što je kritično za mikroskopske sustave visoke rezolucije. U mnogim drugim mikroskopskim sustavima, kao što su uronjeni mikroskopi, pokrovno stakalce se koristi za odvajanje imerzijske tekućine od uzorka. To može iskriviti PSF u žarišnoj ravnini. Pokazujemo da je asimetrični PSF dodatno izdužen iza pokrovnog stakalca. Osim toga, mikroskopija STED (stimulated emission depletion), koja se široko koristi pri razlučivosti desetaka nanometara, troši prstenaste PSF-ove. Slijedeći metodu koju su predložili P.Török i PRT Monro, modeliramo duboko fokusiranje Gauss-Laglerovog snopa. Pokazuje kako generirati toroidalni PSF.
Duboko fokusiranje s imerzijskim mikroskopima s visokim NA
U VirtualLab Fusion, učinak sučelja pokrovnog stakalca na PSF može se izravno analizirati. Žarišna deformacija iza pokrovnog stakalca prikazana je i analizirana na potpuno vektoriziran način.
Fokusiranje Gaussian-Laguerreovih zraka u STED mikroskopiji
Rezultati pokazuju da fokusiranje Gaussovo-Laguerreove zrake višeg reda proizvodi PSF u obliku prstena. Veličina prstenastog PSF-a ovisi, između ostalih varijabli, o specifičnom redoslijedu grede.
