Uvod u mogućnosti konfokalnih mikroskopa
Konfokalna mikroskopija uglavnom koristi tehnologiju 3D snimanja slike, koja postiže digitalnu sliku pomoću lasera visokog-intenziteta iz otvora digitalne kamere i ima snažnu sposobnost vertikalne dubinske rezolucije.
Princip snimanja konfokalnog mikroskopa
Dobivena slika se hvata fokusiranjem svjetla iz žarišne ravnine kroz rupicu digitalne kamere, a kompletna 3D slika se kompilira pomoću softvera na temelju akumuliranog niza slika iz različitih žarišnih ravnina.
Uvećani detalji slike koje prikazuju konfokalni mikroskopski sustavi veći su od onih kod konvencionalnih optičkih mikroskopa. Tradicionalni optički mikroskopi često su opremljeni CCD kamerama niske osjetljivosti za snimanje slika, koje ne mogu detektirati niski intenzitet svjetlosti kao što je fluorescencija. Nasuprot tome, sustavi konfokalne mikroskopije koriste visokoosjetljive fotomultiplikatorske cijevi kao detekcijske elemente, koji mogu pokazati visoku osjetljivost na slabe fluorescentne signale i eliminirati pozadinsku buku smanjenjem raspona pobude i uporabom optičkog sekcije.
Pod istim objektivnim uvjetima povećanja, konfokalna mikroskopija prikazuje slike s jasnijim i finijim morfološkim detaljima i višom bočnom rezolucijom. Poput moćnog alata za mikro nano detekciju, konfokalna mikroskopija ima mnogo razlika od interferometra bijele svjetlosti. Ako ga opišemo jednom riječju, interferometri bijele svjetlosti su "wen", dok su konfokalni mikroskopi "wu". Bijelo svjetlo izvrsno je u otkrivanju ultra glatkih površina ispod nanometarske razine i traži precizne vrijednosti detekcije; Međutim, konfokalna mikroskopija je dobra u otkrivanju grubih kontura na mikro nano razini. Iako je njegova razlučivost detekcije malo inferiorna, može pružiti šarene slike u pravim bojama za jednostavno promatranje.
Konfokalni mikroskop serije VT6000 temelji se na konfokalnoj tehnologiji, u kombinaciji s preciznim modulima za skeniranje Z-smjera, algoritmima za 3D modeliranje, itd. Može mjeriti različite površinske parametre uključujući glatkoću do hrapavosti, nisku refleksiju do visoke refleksije i hrapavost, ravnost, mikro geometrijski profil, zakrivljenost itd. izradaka od nanometarskih do mikrometarskih razina. Može mjeriti i analizirati značajke morfologije površine kao što su površinski profil, površinski defekti, habanje, korozija, ravnost, hrapavost, valovitost, razmak pora, visina koraka, deformacija savijanja i obrada raznih proizvoda, komponenti i materijala.
