Klasifikacija posebnih objektiva metalografskog mikroskopa
Specijalne objektivne leće posebno su dizajnirane i proizvedene za postizanje određenih specifičnih učinaka promatranja, uglavnom kako slijedi:
1. Objektiv s ogrlicom za korekciju: u sredini leće objektiva nalazi se prsten za podešavanje. Kada se prsten za podešavanje okrene, udaljenost između grupa leća u leći objektiva može se podesiti, čime se ispravlja razlika pokrivenosti uzrokovana nestandardnom debljinom pokrovnog stakla. Ljestvica na prstenu za podešavanje može biti od 0.11--.023, a ovaj broj je također označen na ljusci leće objektiva, što pokazuje da je pogreška između debljine pokrovno staklo od 0.11-0.23mm se može ispraviti.
2. (Irisdiaphragmobjective: Dijafragma šarenice nalazi se na gornjem dijelu cijevi leće objektiva i prsten za podešavanje koji se također može okretati prema van. Rotiranjem se može podešavati otvor dijafragme. Leća objektiva ove strukture je najbolja leća za uljnu imerziju. Njegova funkcija je da u pregledu mikroskopom u tamnom polju pozadina vidnog polja nije dovoljno tamna, što dovodi do pada kvalitete pregleda mikroskopa. U ovom trenutku prilagodite veličinu otvor blende za potamnjivanje pozadine, osvjetljenje objekta koji se pregledava i pojačavanje učinka pregleda mikroskopom.
3. Faznokontrastoobjektiv: Ova objektivna leća je posebna leća objektiva koja se koristi za fazno kontrastnu mikroskopiju, a karakteristika joj je da se fazna ploča postavlja na stražnju žarišnu ravninu objektivne leće.
4. Objektiv bez pokrova: Neki predmeti koji se pregledavaju ne mogu se pokriti pokrovnim staklom. Na taj se način pri pregledu mikroskopom ne smije upotrebljavati pokrovna leća objektiva, inače će kvaliteta slike biti značajno smanjena, osobito pri pregledu mikroskopom s velikim povećanjem. Kućište ove leće objektiva često je označeno s NC, a na poziciji debljine pokrovnog stakla nema riječi 0.17, već je označeno "0".
5. Objektiv na velikoj radnoj udaljenosti: žarišna duljina ove leće objektiva veća je od obične objektivne leće i dizajnirana je da zadovolji mikroskopsku inspekciju tekućih materijala (metalografija na visokim temperaturama), tekućeg kristala, kulture tkiva, suspenzije i drugi materijali.
