Upotreba i značajke transmisijskih elektronskih mikroskopa
Transmisijski elektronski mikroskop (TEM) mikroskop je visoke-razlučivosti koji se koristi za promatranje unutarnje strukture uzorka. Koristi snop elektrona za prodiranje u uzorak i formiranje projicirane slike, koja se zatim tumači i analizira kako bi se otkrila mikrostruktura uzorka.
1. Elektronički izvor
TEM koristi zrake elektrona umjesto svjetlosnih zraka. Transmisijski elektronski mikroskop serije Talos opremljen u laboratoriju Jifeng Electronics MA koristi elektronske topove ultra-visoke svjetline, dok transmisijski elektronski mikroskop sa sfernom aberacijom HF5000 koristi elektronske topove hladnog polja.
2. Vakuumski sustav
Kako bi se izbjegla interakcija između elektronskog snopa i plina prije prolaska kroz uzorak, cijeli mikroskop mora se održavati u uvjetima visokog vakuuma.
3. Uzorak prijenosa
Uzorak mora biti proziran, što znači da snop elektrona može prodrijeti kroz njega, djelovati s njim i formirati projiciranu sliku. Obično se debljina uzorka kreće od nanometara do submikrona. Jifeng Electronics opremljen je desecima FIB-ova serije Helios 5 za pripremu visoko{3}}kvalitetnih ultra-tankih TEM uzoraka.
4. Sustav elektroničkog prijenosa
Elektronski snop se fokusira putem prijenosnog sustava. Ove su leće slične onima u optičkim mikroskopima, ali zbog mnogo kraće valne duljine elektrona u usporedbi sa svjetlosnim valovima, zahtjevi za dizajn i proizvodnju leća su viši.
5. Kao avion
Nakon prolaska kroz uzorak, elektronski snop ulazi u ravninu slike. Na ovoj se ravnini informacija o elektronskom snopu pretvara u sliku i hvata detektor.
6. Detektor
Najčešći detektori su fluorescentni zasloni, CCD (Charge Coupled Device) kamere ili CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) kamere. Kada elektronski snop stupi u interakciju s fluorescentnim zaslonom na ravnini slike, generira se vidljiva svjetlost, formirajući projiciranu sliku uzorka, koja se obično koristi za traženje uzoraka. Zbog činjenice da se fluorescentni zasloni moraju koristiti u mračnoj prostoriji i nisu-prilagođeni korisniku, proizvođači sada instaliraju kameru iznad strane fluorescentnog zaslona, omogućujući TEM operaterima da promatraju zaslon u svijetlom okruženju kako bi tražili uzorke, naginjali os remena i obavljali druge radnje. Ovo neupadljivo poboljšanje osnova je za postizanje odvajanja ljudi-od stroja.
7. Formirajte sliku
Kada elektronski snop prolazi kroz uzorak, dolazi u interakciju s atomima i kristalnom strukturom unutar uzorka, raspršujući se i apsorbirajući. Na temelju tih interakcija, intenzitet elektronskog snopa će oblikovati sliku na ravnini slike. Sve su te slike dvo{2}}dimenzionalne projekcijske slike, ali je unutarnja struktura uzorka često tro-dimenzionalna, pa na to treba obratiti posebnu pozornost pri analizi detaljnih informacija unutar uzorka.
8. Analiza i objašnjenje
Promatrajući i analizirajući slike, istraživači mogu razumjeti informacije o mikrostrukturi uzorka, kao što su kristalna struktura, parametri rešetke, defekti kristala, atomski raspored itd. Jifeng ima profesionalni tim za analizu materijala koji može pružiti klijentima cjelovita rješenja za analizu procesa i profesionalna izvješća o analizi materijala.
