Koji je princip rada mrežnog mjerača debljine premaza tankog filma
Jingpu Measurement and Control Thin Film Coating Online Thickness Gauge online je instrument za mjerenje debljine koji koristi princip tehnologije optičkog premaza za otkrivanje debljine materijala. Precizno mjerenje spektra i kontrola mrežnog mjerača debljine tankog filma često se koristi za grupno ispitivanje debljine materijala na proizvodnoj liniji. Reagiranje na abnormalne podatke važna je karika u automatiziranoj proizvodnji. U današnje vrijeme, zbog brzog razvoja znanosti i tehnologije, online mjerači debljine tankog sloja postali su nezamjenjiv alat za serijsku detekciju debljine materijala na proizvodnoj liniji.
U današnje vrijeme, zbog brzog razvoja znanosti i tehnologije, područje strojnog vida se ubrzano razvija i primjenjuje. U području mjerenja debljine tankog filma također su se brzo razvili mrežni mjerači debljine za tankoslojne premaze. Danas, uz kontinuirani razvoj znanosti i tehnologije, mjerenje debljine Vrste i tehničke karakteristike instrumenta također su znatno poboljšane. U procesu primjene mjerača debljine, u kombinaciji s različitim vrstama mjerača debljine, upotreba je također vrlo različita. Sada uzmite mjerač debljine sloja tankog filma tvrtke Wuxi Precision Measurement and Control. Na primjer, mrežni mjerač debljine preciznog spektra i kontrole premaza (debljine filma) usvaja metodu nano-optičke interferencije, koja može istovremeno mjeriti 20 slojeva neiskorištenih premaza i filmove u isto vrijeme, a točnost je čak 1nm, što savršeno rješava problem tradicionalnog zračenja. Mjerač debljine na mreži ima nedostatke zračenja, dugog razdoblja pomaka, niske točnosti detekcije i nemogućnosti detektiranja debljine premaza. Precizno mjerenje i kontrola debljine premaza na mreži za mjerenje debljine ima visoku točnost detekcije, au isto vrijeme može automatski kalibrirati na mreži u stvarnom vremenu, što učinkovito jamči točnost detekcije mrežnog mjerača debljine.
Načelo otkrivanja tankoslojnog premaza putem mrežnog mjerača debljine:
Kada svjetlost određene valne duljine prolazi kroz različite materijale (različite debljine, gustoće, sastava), spektralne pruge nastale nakon višestruke refleksije na površini i iznutra potpuno su različite. Sustav analizira spektar primljene reflektirane svjetlosti. Karakteristike interferencijskih rubova uspoređuju se i uspoređuju sa spektralnim krivuljama u biblioteci sustava, a karakteristične krivulje se simuliraju i prilagođavaju u isto vrijeme, a zatim se mjere prevlake s različitim debljinama komponenti. na liniji.
(1) Upadno svjetlo reflektira se više puta na gornjoj i donjoj površini filma.
(2) Intenzitet reflektirane svjetlosti povezan je s indeksom loma filma, indeksom loma supstrata, debljinom filma i valnom duljinom.
(3) U slučaju poznatog indeksa loma, izračunajte debljinu filma prema funkciji izmjerenog intenziteta reflektirane svjetlosti i valne duljine.
