Koji se mikroskop koristi za istraživanje grafena
Naravno, radi se o mikroskopu atomske sile (AFM). Gledajući kartu visine, jedan sloj grafena je manji od 1 nm. Treba reći da je AFM najprikladniji način karakterizacije grafenskih materijala. Naravno, potrebno je obratiti pozornost na razlikovanje prašine, soli i molekula grafena tijekom AFM karakterizacije.
Naravno, optička mikroskopija i skenirajuća elektronska mikroskopija (SEM) također se mogu koristiti za karakterizaciju grafena. Tu je i prijenosni elektronski mikroskop visoke rezolucije HRTEM koji može vidjeti atomsku sliku grafena u saću i može vidjeti defekte grafen oksida nakon redukcije.
Danas je kvaliteta knjiga koje sastavljaju mnogi znanstvenici sve gora i gora, ali "Graphene-Structure, Preparation Method and Performance Characterization" koju su uredili znanstvenici sa Sveučilišta Tsinghua i dalje je razumna. Postoje neke pogreške u knjizi, koje ne utječu na referencu. U usporedbi s nekim knjigama, puno je bolje sastaviti veliki broj dokumenata bez logičkih pravila koja pokazuju koliko ste dokumenata pročitali.
