Kratka analiza principa i primjene DIC-a u metalografskim mikroskopima
Kada svi rade promatranje metalografskim mikroskopom, postoji metoda promatranja koja se naziva metoda kontrasta diferencijalne interferencije, koja se također naziva metoda promatranja DIC. Ovo je relativno napredna metoda koja se trenutno koristi samo u opremi stranih marki. Konkretno načelo je sljedeće: Uvedite ga.
Komponente potrebne za metalografski mikroskop: polarizator, analizator, diferencijalni interferencijski DIC čip (izrađen od glacijalnog kamena).
Polarizatori i analizatori nezamjenjive su osnovne potporne komponente u promatranju ortogonalno polarizirane svjetlosti metalografskih uzoraka. Sastavljeni su u sklop osvjetljenja svijetlog/tamnog polja i također su nezamjenjive komponente za metodu kontrasta diferencijalne interferencije. Polarizator metalografskog mikroskopa mijenja izvor svjetlosti u linearno polariziranu svjetlost koja vibrira u smjeru istok-zapad; analizator može interferirati s koherentnom svjetlošću koja zadovoljava uvjete interferencije.
Diferencijalna interferencijska DIC ploča metalografskog mikroskopa ključna je komponenta metode kontrasta diferencijalne interferencije. Njegova se debljina neznatno mijenja, uzrokujući male promjene u optičkoj putanji ili razlici optičke putanje, i proizvodi očiti efekt interferencije kontrasta;
Primjena DIC listova diferencijalne interferencije u metalografskim mikroskopima:
Promatrajte čestice, pukotine, rupe i ispupčenja na površini predmeta, koji se pojavljuju reljefno, i možete ispravno prosuditi.
Zahtjevi za površinom nekih izradaka su smanjeni. Sve dok poliranje ne zahtijeva koroziju, može se vidjeti reljef fazne transformacije martenzita.
Promatrajte neke promjene površinskih čestica, kao što je promatranje vodljivih iona, itd.
Kroz gornje objašnjenje, vjerujem da svatko ima određeno razumijevanje principa i primjene DIC listova diferencijalne interferencije u metalografskim mikroskopima.
