Primjena metalografskih mikroskopa u različitim industrijama
Metalografski mikroskopi nastali su iz metalografije. To su profesionalni instrumenti koji se uglavnom koriste za promatranje metalografskih struktura, posebno za ispitivanje metalografske mikrostrukture neprozirnih predmeta kao što su metali i minerali. Ovi neprozirni uzorci ne mogu se promatrati običnim mikroskopima s prijenosnim svjetlom. Stoga je primarna razlika između metalografskih mikroskopa i običnih mikroskopa u tome što prvi koristi osvjetljenje reflektiranom svjetlošću, dok se drugi oslanja na propušteno svjetlo.
Metalografski mikroskopi imaju izvrsnu stabilnost, oštru sliku, visoku rezoluciju i veliko ravno vidno polje. Promatranja se mogu izvoditi ne samo kroz okular, već i kao dinamičke slike u stvarnom vremenu na zaslonu računala ili digitalnog fotoaparata. Snimljene slike mogu se uređivati, spremati i ispisivati. Široko se primjenjuju u hardveru, metalografskim sekcijama, IC komponentama, LCD-u, LED-u i drugim područjima.
Postoji pet vrsta leća objektiva za metalografske mikroskope: EPI fluorescentni objektivi za svijetlo polje, BD objektivi za svijetlo/tamno polje, SLWD objektivi za superdugu radnu udaljenost, ELWD objektivi za produženu radnu udaljenost i objektivi s korekcijskim prstenima. U industriji hardvera, BD objektivi za svijetlo/tamno polje mogu se odabrati za promatranje visoko reflektirajućih hardverskih dijelova. Na primjer, pri promatranju i mjerenju vodljivih čestica u LCD industriji, metalografski mikroskop može biti opremljen DIC-om za dobivanje više stereoskopskih prikaza. Ovo je tehnika mikroskopije polariziranog svjetla koja koristi uparene filtre. Preusmjerava put svjetlosti prema svojstvima dvoloma. Imajte na umu da je polarizirano svjetlo obično funkcionalno samo u kombinaciji s DIC-om i ima ograničenu vrijednost kada se koristi samostalno.
Kada se metalografski mikroskopi koriste za mjerenje i analizu sitnih značajki na IC komponentama i metalografskim dijelovima, može se usvojiti inteligentni softver za mjerenje Iview‑DIMS. Omogućuje visoku preciznost i učinkovito smanjuje pogreške ručnog mjerenja. Softver je jednostavan za korištenje i podržava mjerenje i analizu točaka, linija, lukova, polumjera, promjera, kutova i drugih geometrijskih dimenzija. Također može snimati slike mjerenja i generirati prilagođena izvješća o ispitivanju.
