Primjena mikroskopa u strateškoj industriji LED dioda u nastajanju
LED (Light-Emitting Diode) je skraćeni naziv za svjetleće diode. Počevši od druge polovice 2009., LED tržište doživjelo je brzi skok. Kao brzorastuća industrija u nastajanju, očekuje se da će opseg kineske LED industrije premašiti 500 milijardi juana do 2015., uključujući 160 milijardi juana za opću rasvjetu, 120 milijardi juana za pozadinsko osvjetljenje LCD TV-a velikih dimenzija, 20 milijardi juana za automobilsku rasvjetu i 100 milijardi juana za pejzažnu rasvjetu, zaslonske aplikacije i druge sektore.
LED industrijski lanac može se grubo podijeliti u tri dijela: rast supstrata uzvodno i proizvodnja epitaksijalnih pločica, pakiranje čipova u sredini i proizvodi za primjenu nizvodno. Među cijelim industrijskim lancem, ključni dijelovi leže u rastu supstrata i proizvodnji epitaksijalnih pločica, koji imaju relativno visok tehnološki sadržaj i čine gotovo 70% vrijednosti proizvodnje i dobiti u industriji.
Trenutni trendovi razvoja LED industrije
Pod utjecajem međunarodnih i domaćih tržišta i vođenNacionalni projekt poluvodičke rasvjeteKineska LED industrija u početku je formirala relativno potpun industrijski lanac koji pokriva uzvodne materijale za LED supstrate, proizvodnju LED epitaksijalnih pločica, pripremu LED čipova, pakiranje LED čipova i primjenu LED proizvoda.
Dobro je poznato da poluvodičke svjetleće diode nude prednosti poput visoke učinkovitosti pretvorbe energije i dugog životnog vijeka, te se smatraju izvorom svjetlosti sljedeće generacije koji će zamijeniti tradicionalne izvore svjetlosti koji se trenutno koriste. Međutim, sudeći prema trenutnim performansama svjetlećih dioda, još uvijek treba prevladati mnoge tehničke izazove da bi se postigao ovaj cilj, što zahtijeva pojačana istraživanja u analizi i karakterizaciji materijala, tehnologiji analize uređaja i drugim poljima.
U analizi struktura pakiranja LED uređaja, kao i strukture, sastava i stanja sučelja čipova, instrumenti uključujući optičke mikroskope, skenirajuće elektronske mikroskope (SEM), spektroskopiju X-zraka s disperzijom energije (EDS) i sekundarnu ionsku spektrometriju mase (SIMS) postali su nezamjenjivi analitički alati za analizu kvarova i strukture uređaja, kao i praćenje, optimizaciju i poboljšanje epitaksijalnih procesima.
