Mikroskopija atomske sile u kombinaciji s tehnikom invertnog optičkog mikroskopa
Tehnologija spajanja invertnog optičkog mikroskopa FlexAFM dostupna je svim kupcima koje zanima mogućnost kombiniranja optičke mikroskopije i mikroskopije atomske sile. Sustav se sastoji od univerzalnog postolja za uzorkovanje invertnog optičkog mikroskopa FlexAFM, adaptera uzorka specifičnog za mikroskop za različite mikroskope (npr. Zeiss ili Olympus) i optike za korekciju osvjetljenja FlexAFM.
Glavne značajke mikroskopije atomske sile u kombinaciji s tehnikom invertirane optičke mikroskopije su:
- Priključni adapteri za mikroskope serije Zeiss Axiovert/AxioObserver, Olympus IX2, Nikon Eclipse Ti i Leica DMI. Drugi modeli invertiranih optičkih mikroskopa mogu se prilagoditi prema modelu.
-Intuitivan rad zahvaljujući činjenici da optičko vidno polje AFI-ja i invertnog optičkog mikroskopa imaju istu orijentaciju.
- Usklađivanje konzolnog kraka u optičkom vidnom polju postiže se neovisnim pomicanjem AFM glave za skeniranje u smjeru X i Y, pri čemu os AFM skeniranja i os optičke slike imaju paralelni razmak od 1 mm.
- Tehnologija čipa za poravnanje eliminira potrebu za izvođenjem novog poravnanja konzolnog kraka na optičkoj slici nakon zamjene konzolnog kraka.
- Pozicioniranje uzorka ima 12 mm hoda u smjerovima X i Y.
- Držači uzoraka mogu se prilagoditi nosačima mikroskopa i petrijevim zdjelicama.
-Mogućnost korištenja leća s velikim numeričkim otvorom blende u kombinaciji s petrijevim zdjelicama s pokrovnim stakalcem.
Jedinica invertnog optičkog mikroskopa: EasyScan 2FlexAFM AFM integriran je u Zeiss invertirani optički mikroskop dok se nalazi na Accurion aktivnom postolju za prigušivanje vibracija.
