Uobičajene greške i rješenja digitalnih multimetara
Fault hunting treba slijediti načela: izvana prema unutra, od lakšeg prema težem, podijeliti cjelinu na dijelove i napraviti prodore na ključnim točkama. Glavne metode navedene su u nastavku:
① Metoda senzorske inspekcije Procijenite uzrok kvarova izravno ljudskim osjetilima. Vizualnim pregledom mogu se otkriti slomljene žice, hladni lemljeni spojevi, kratki spojevi zbog preklapanja žica, pregorjeli osigurači, spaljene komponente, mehanička oštećenja, podignuti ili slomljeni bakreni tragovi na tiskanim krugovima itd. Dodirnite za provjeru porasta temperature baterija, otpornika, tranzistora i IC-ova i locirajte uzrok nenormalnog porasta temperature prema dijagramu kruga. Osim toga, ručno provjerite jesu li komponente labave, jesu li pinovi IC-a čvrsto umetnuti i je li se okretni prekidač zaglavio. Osluškujte neuobičajene zvukove i ponjušite neuobičajene mirise.
② Metoda mjerenja napona Brzo locirajte točke kvara mjerenjem radnog napona na ključnim čvorovima i provjerom jesu li vrijednosti
su normalni. Primjeri uključuju mjerenje napona napajanja i referentnog napona A/D pretvarača.
③ Metoda kratkog spoja Ova metoda se obično koristi u prethodno spomenutim postupcima inspekcije A/D pretvarača i naširoko se primjenjuje u popravcima slabe struje i mikroelektroničkih instrumenata.
④ Metoda otvorenog strujnog kruga Odvojite sumnjivi dio od cijelog uređaja ili kruga jedinice. Ako greška nestane, greška leži unutar isključenog kruga. Ova metoda se uglavnom primjenjuje na strujne krugove koji pate od kratkih spojeva.
⑤ Metoda ispitivanja komponenti Nakon što se greška suzi na određeno područje ili nekoliko komponenti, izvedite mjerenja unutar ili izvan strujnog kruga. Ako je potrebno, zamijenite sumnjivu komponentu dobrom. Ako greška nestane, originalna komponenta je neispravna.
⑥ Metoda smetnji Koristite napon induciran ljudskim tijelom kao signal smetnje i promatrajte promjene na LCD-u. Ova se metoda često koristi za provjeru rade li ulazni krug i dio zaslona ispravno.
