Razlike između elektronskog mikroskopa i metalografskog mikroskopa
Princip skenirajućeg elektronskog mikroskopa
Skenirajući elektronski mikroskop (SEM) složen je sustav. Koncentrirana je elektronička optička tehnologija, vakuumska tehnologija, fina mehanička struktura i moderna računalna tehnologija upravljanja. Pretražni elektronski mikroskop (SEM) prikuplja elektrone emitirane elektronskim topom u fine elektronske zrake kroz višestupanjske elektromagnetske leće pod djelovanjem ubrzanog visokog napona. Skeniranje površine uzorka može potaknuti razne informacije koje se mogu primiti, pojačati, prikazati i slikati za analizu površine uzorka. Upadni elektroni u interakciji s uzorkom generiraju tipove informacija kao što je prikazano na slici 1. Dvodimenzionalna distribucija intenziteta ovih informacija varira s karakteristikama površine uzorka (te karakteristike uključuju morfologiju površine, sastav, orijentaciju kristala, elektromagnetske karakteristike itd. .). Informacije prikupljene različitim detektorima pretvaraju se u video signale u slijedu i proporciji, a zatim se prenose sinkronom skenirajućem kineskopu radi modulacije njegove svjetline, tako da se može dobiti slika skeniranja koja odražava stanje površine uzorka. Ako se signal koji primi detektor digitalizira i pretvori u digitalni signal, računalo ga može dalje obraditi i pohraniti. Skenirajući elektronski mikroskop (SEM) uglavnom se koristi za promatranje debelih uzoraka s velikom razlikom u visini i hrapavosti, tako da naglašava učinak dubinskog polja u dizajnu i općenito se koristi za analizu prijeloma i prirodnih površina bez ručnog tretmana.
Elektronski mikroskop i metalografski mikroskop
Prvo, izvor svjetlosti je drugačiji: metalografski mikroskop koristi vidljivu svjetlost kao izvor svjetlosti, a skenirajući elektronski mikroskop koristi snop elektrona kao izvor svjetlosti za snimanje.
Drugo, princip je drugačiji: metalografski mikroskop koristi načelo geometrijske optike za slikanje, skenirajući elektronski mikroskop koristi snop elektrona visoke energije za bombardiranje površine uzorka, što pobuđuje različite fizičke signale na površini uzorka, a zatim koristi različite detektore signala za primanje fizičke signale i pretvoriti ih u slikovne informacije.
Treće, razlučivost je drugačija: zbog interferencije i difrakcije svjetlosti, razlučivost metalografskog mikroskopa može se ograničiti samo na 0.2-0.5um. Budući da skenirajući elektronski mikroskop koristi elektronski snop kao izvor svjetlosti, njegova rezolucija može doseći 1-3 nm, tako da promatranje mikrostrukture metalografskim mikroskopom pripada analizi mikronske skale, a promatranje mikrostrukture skenirajućeg elektronskog mikroskopa pripada analizi nano skale .
Četvrto, dubina polja je drugačija: Općenito, dubina polja metalografskog mikroskopa je između 2-3um, tako da je glatkoća površine uzorka izuzetno visoka, pa je postupak pripreme uzorka relativno kompliciran. S druge strane, skenirajući elektronski mikroskop ima veliku dubinsku oštrinu, veliko vidno polje i trodimenzionalnu sliku, kojom se može izravno promatrati fina struktura neravnih površina različitih uzoraka.
