Uvod u terminologiju mikroskopa za metalografski analizator
Numerički otvor
Numerički otvor je glavni tehnički parametar objektivne leće i kondenzatorske leće metalografskog mikroskopa. Numerički otvor, skraćen kao NA, važan je pokazatelj prosuđivanja performansi oboje, posebno za objektivne leće. Veličina njegove vrijednosti označena je na kućištu objektivne leće i kondenzatorske leće.
Numerički otvor (NA) produkt je indeksa loma (n) medija između prednje leće objektivne leće i objekta koji se pregledava, a polovica sinusa kuta otvora (U). Formula je sljedeća: Na=nsinu/2
razlučivost
Rezolucija metalografskog mikroskopa odnosi se na malu udaljenost između dva objekta koja se može jasno razlikovati mikroskopom, također poznatom kao brzina diskriminacije. Formula izračuna je σ=λ/na
U formuli je σ * mala razlučivost; λ je valna duljina svjetlosti; Na je numerički otvor objektivne leće. Rezolucija objektivne leće određuje se s dva faktora: Na vrijednost objektivne leće i valna duljina izvora svjetlosti osvjetljenja. Što je veća vrijednost Na i kraća je valna duljina svjetlosti osvjetljenja, to je manja vrijednost σ i veća je rezolucija.
Uvećanje i učinkovito povećanje
Zbog dva uvećanja objektivne leće i okulara, ukupno povećanje mikroskopa trebalo bi biti produkt objektivnog povećanja i povećanja okulara Gama 1: γ=γ1
Očito, u usporedbi s povećalom, mikroskop može imati mnogo veće povećanje, a izmjenom objektiva objektiva i okulara s različitim uvećanjima lako je promijeniti povećanje mikroskopa.
Dubina fokusa
Dubina fokusa, poznata i kao žarišna dubina, odnosi se na mogućnost da se jasno vidi ne samo sve točke koje se nalaze na ravnini mikroskopa kada je fokus na objektu, već i unutar određene debljine iznad i ispod ove ravnine. Debljina ovog jasnog dijela naziva se dubina fokusa. To je posebno važno u video mikroskopima.
Promjer vidnog polja
Pri promatranju mikroskopa, vidljivo jak kružni raspon naziva se vidno polje, a njegova veličina određuje se vidnim otvorom vidnog otvora u okupu.
Promjer polja, također poznat kao širina polja, odnosi se na stvarni raspon objekata koji se mogu smjestiti u kružnom vidnom polju viđenom pod mikroskopom. Što je veći vidni promjer polja, lakše je promatrati.
Loša pokrivenost
Optički sustav mikroskopa također uključuje pokrovno staklo. Zbog nestandardne debljine pokrovnog stakla, refrakcijska staza svjetlosti koja ulazi u zrak iz stakla s poklopcem mijenja se, što rezultira faznom razlikom, što se naziva razlika pokrivanja. Loša pokrivenost utječe na kvalitetu zvuka proizvedenog metalografskim mikroskopom.
radna udaljenost
Radna udaljenost, poznata i kao udaljenost objekta, odnosi se na udaljenost između površine leće ispred objektivne leće i objekta koji se pregledava. Tijekom inspekcije zrcala, objekt koji se pregledava treba biti jedan i dva puta veća od žarišne duljine objektivne leće. Stoga su IT i žarišna duljina dva različita koncepta, a ono što se obično naziva fokusiranjem zapravo je prilagođavanje radne udaljenosti metalografskog mikroskopa.
