Principi i primjena mikroskopije pri slabom osvjetljenju EMMI/OBIRCH
Emisijski mikroskop (EMMI) (raspon valne duljine: 400 nm do 1100 nm) je alat koji se koristi za otkrivanje i lociranje točaka kvarova, traženje svijetlih i vrućih točaka. Detektiranjem fotona pobuđenih vezanjem elektrona na rupu i toplinskih nositelja. U IC komponentama, EHP (Electron Hole Pair) rekombinacija emitira fotone. Na primjer, kada se napon prednapona primijeni na pn spoj, elektroni od n lako se difundiraju na p, a šupljine od p također se lako difuziraju u n i zatim prolaze kroz EHP rekombinaciju s rupama na p kraju (ili elektronima na n kraju).
Opseg primjene:
EMMI može locirati otkrivanje curenja uzrokovanog raznim nedostacima komponenti, kao što su defekti oksida na vratima, kvar elektrostatičkog pražnjenja, učinak zaskočenja i curenje u provjeri kruga, curenje spoja, prednaprednost i tranzistori koji rade u područjima zasićenja, kako bi se otkrila lokacija vrućih točaka (Hot Spot ili Bright Spot) u CMOS čipovima za senzor slike i LED fleksibilnom zaslonu s tekućim kristalima područja niza, kao i neravnomjerna bočna raspodjela struje i curenje u čipovima tipa LED.
Opseg primjene:
1. Otkrijte ožičenje pakiranja čipa i kratke spojeve unutarnjeg kruga.
2. Kratki spojevi i curenje tranzistora i dioda.
3. Defekti metalnog kruga i kratki spojevi u TFT LCD panelima, PCB/PCBA.
4. Djelomično neispravne komponente na PCB/PCBA.
5. Propuštanje dielektričnog sloja (oksida).
6. ESD blokada.
7. Procjena dubine točaka kvara za pakiranje 7.3D naslaganih kalupa.
8. Detekcija lokacije neotvorenih točaka kvara na čipovima (prepoznavanje pakiranja u kalupu)
9. Analiza problema kratkog spoja niske impedancije (<10 ohm) is commonly used to analyze some uncovered sample tests, as well as the failure location of metal lines and components on large PCBs. It is also used to analyze situations such as leakage and short circuits that cannot be detected by OBIRCH and INGAAS due to metal layer obstruction.
