Principi optičke mikroskopije u bliskom polju
The optical microscope of the principle of near-field optical microscope consists of optical lenses, which can magnify the object up to thousands of times to observe the details. Due to the diffraction effect of light waves, it is impossible to increase the magnification indefinitely because the obstacle of the diffraction limit of light waves will be encountered, and the resolution of the traditional optical microscope can not be more than half of the wavelength of the light. For example, with a wavelength of λ = 400nm of green light as a light source, can only distinguish between two objects that are 200nm apart. In practice λ>400nm, the resolution is somewhat lower. This is due to the fact that optical observation in general is made at a great distance from the object (>>λ).
Optička mikroskopija bliskog polja, temeljena na principu sondiranja i snimanja polja bez zračenja, može probiti granicu difrakcije kojoj su podvrgnuti obični optički mikroskopi, omogućujući provođenje optičkih slika u nanosalu i spektroskopskih studija u nanosalu na ultra- visoka optička rezolucija.
Optički mikroskop bliskog polja sastoji se od sonde, uređaja za prijenos signala, kontrole skeniranja, obrade signala i sustava povratne sprege signala. Načelo generiranja i detekcije bliskog polja: zračenje upadnog svjetla na površinu objekta s mnogo sitnih mikrostruktura, te mikrostrukture u ulozi upadnog svjetlosnog polja, rezultirajući reflektirani val sadrži iznenadni val ograničen na površinu objekta i širenje valovi u daljinu. Iznenadni valovi dolaze iz finih struktura u objektu (objekti manji od valne duljine). Val koji se širi dolazi iz grube strukture objekta (objekti veći od valne duljine) koja ne sadrži nikakvu informaciju o finoj strukturi objekta. Ako se vrlo mali centar raspršenja koristi kao nanodetektor (npr. sonda), postavljen dovoljno blizu površine objekta da pobudi brzi val, uzrokujući njegovo ponovno emitiranje svjetlosti. Svjetlost koju proizvodi ova ekscitacija također sadrži brze valove koji se ne mogu detektirati i valove koji se šire i mogu se širiti do udaljenih detekcija, a ovaj proces dovršava detekciju bliskog polja. Prijelaz između brzog polja i propagirajućeg polja je linearan, a propagirajuće polje točno odražava promjene u skrivenom polju. Ako se centar raspršenja koristi za skeniranje površine objekta, može se dobiti dvodimenzionalna slika. Prema principu reciprociteta, uloge izvora svjetlosti koji zrači i nano-detektora međusobno se zamjenjuju, te se uzorak zrači izvorom nano-svjetla (naglo polje), a zbog raspršenja polja zračenja finom strukturom objekta, nagli val se pretvara u val koji se širi i koji se može detektirati na daljinu, a rezultat je potpuno isti.
