Ispitivanje struje curenja kondenzatora s rasponom napona multimetra
Raspon istosmjernog napona digitalnog multimetra ne koristi se samo za mjerenje napona, već i za otkrivanje kondenzatora. Mjerenje kapacitivnosti pomoću raspona napona zapravo je neizravna metoda mjerenja, kojom se mogu mjeriti kondenzatori malog kapaciteta u rasponu od 220pF do 1 μF i točno mjeriti struja curenja kondenzatora.
1. Metode i principi mjerenja. Mjerni krug prikazan je na slici 1, gdje je E vanjska suha baterija od 1,5 V. Namjestiti digitalni multimetar na istosmjerni napon od 2V, spojiti crvenu sondu na jednu elektrodu ispitivanog kondenzatora Cx, a crnu sondu spojiti na negativni pol baterije. Ulazni otpor Ri za 2V zupčanik je 10M Ω. Budući da je napon na Ri ulazni napon instrumenta VIN, Ri zapravo služi i kao otpornik za uzorkovanje. Ako je struja curenja izmjerenog kondenzatora ID, a stabilna vrijednost koju prikazuje instrument je VC (jedinica: V), tada
Evo primjera za ilustraciju:
Primjer 1: Ispitivani kondenzator je fiksni kondenzator kapaciteta 1 μ F/160V. Upotrijebite digitalni multimetar DT930FD s rasponom od 2 V/DC (=10M Ω) za spajanje kruga prema slici 1. Isprva je instrument prikazivao 1,521 V, a zatim se prikazana vrijednost postupno smanjivala. Nakon otprilike 1 minute, prikazana vrijednost se stabilizirala na 0,0027 V. Na temelju toga izračunata je struja curenja testiranog kondenzatora: struja curenja testiranog kondenzatora bila je samo 0,3nA, što ukazuje na dobru kvalitetu.
Primjer 2: Testirani kondenzator je poliesterski kondenzator od 0,022 μ F/63V, a metoda mjerenja je ista kao gore. Zbog malog kapaciteta kondenzatora, VIN (t) se brzo smanjuje tijekom mjerenja. Nakon otprilike 4 sekunde, prikazana vrijednost pada na 0,0019 V. Izračunata struja curenja je:
Struja curenja je vrlo mala, što ukazuje na dobru kvalitetu.
2. Mjere opreza
(1) Prije mjerenja, dvije pinove kondenzatora treba kratko spojiti i isprazniti, inače se proces očitanja može promijeniti
ne promatrati.
(2) Tijekom postupka mjerenja ne dirajte elektrodu kondenzatora s obje ruke kako biste izbjegli preskakanje instrumenta.
(3) Tijekom procesa mjerenja, vrijednost VIN (t) mijenja se eksponencijalno, brzo opadajući na početku i postupno usporavajući s vremenom. Kada je kapacitet ispitivanog kondenzatora Cx manji od nekoliko tisuća pikofarada, zbog brzog smanjenja VIN (t) na početku i niske brzine mjerenja instrumenta, nema vremena za odraz početne vrijednosti napona. Stoga je početna prikazana vrijednost instrumenta niža od napona baterije E.
(4) Kada je izmjereni kondenzator Cx veći od 1 μF, kako bi se skratilo vrijeme mjerenja, za mjerenje se može koristiti režim otpora. Ali kada je kapacitet testiranog kondenzatora manji od 200pF, teško je promatrati proces punjenja zbog kratke promjene očitanja.
