Transmisija i epi-osvjetljenje mikroskopa za instrumente za metalografsku analizu
Metode osvjetljenja mikroskopa za instrumente za metalografsku analizu općenito se dijele u dvije kategorije: "transmisivno osvjetljenje" i "episkopsko osvjetljenje". Prvi je prikladan za prozirne ili prozirne objekte, a većina bioloških mikroskopa pripada ovoj vrsti metode osvjetljenja; potonji je pogodan za netransparentne objekte, a izvor svjetla dolazi odozgo, također poznat kao "reflektirajuća rasvjeta". Glavne primjene kod metalografske mikroskopije ili fluorescentne mikroskopije.
1. Trans-iluminacija
Biološki mikroskopi uglavnom se koriste za promatranje prozirnih uzoraka i potrebno ih je osvijetliti propuštenom svjetlošću. Postoje dva načina osvjetljenja
(1) Kritično osvjetljenje Nakon što izvor svjetlosti prođe kroz kondenzator, prikazuje se na ravnini objekta, kao što je prikazano na slici 5. Ako se zanemari gubitak svjetlosne energije, svjetlina slike izvora svjetlosti jednaka je svjetlu sam izvor, tako da je ova metoda ekvivalentna postavljanju izvora svjetlosti na ravninu objekta. Očito, u kritičnom osvjetljenju, ako svjetlina površine izvora svjetlosti nije ujednačena, ili očito pokazuje male strukture, kao što su niti, itd., tada će učinak promatranja mikroskopa biti ozbiljno pogođen, što je nedostatak kritično osvjetljenje. Lijek je postaviti mliječno bijele i filtere u boji koji apsorbiraju toplinu ispred izvora svjetlosti kako bi osvjetljenje bilo ujednačenije i izbjeglo oštećenje predmeta koji se pregledava zbog dugotrajnog zračenja izvora svjetlosti. Kada se osvijetli propusnom svjetlošću, kut otvora snopa slike leće objektiva određen je kutom otvora pravokutnog snopa zrcala kondenzatora. Kako bi se u potpunosti iskoristio numerički otvor objektiva, sabirna leća treba imati jednak ili malo veći numerički otvor kao objektiv.
(2) Kola rasvjeta Nedostatak neravnomjernog osvjetljenja na površini objekta kod kritične rasvjete može se eliminirati u Kola rasvjeti. Pomoćna sabirna leća 2 dodaje se između izvora svjetlosti 1 i sabirne leće 5, kao što je prikazano na Sl. 6 . Može se vidjeti da je vidno polje (uzorak) leće objektiva jednoliko osvijetljeno jer izvor svjetlosti nije izravno osvijetljen, ali je pomoćni kondenzor 2 (također nazvan Kolarovo zrcalo) jednoliko osvijetljen izvorom svjetlosti prikazan na primjerak 6.
2. epi-osvjetljenje
Pri promatranju neprozirnih predmeta, kao što je promatranje metalnih brusnih ploča kroz metalografski mikroskop, često se osvjetljava sa strane ili odozgo. U ovom trenutku nema pokrovnog stakla na površini objekta koji se promatra, a slika uzorka nastaje reflektiranom ili raspršenom svjetlošću koja ulazi u leću objektiva.
3. Metoda osvjetljavanja za promatranje čestica pomoću tamnog polja
Ultramikroskopske čestice mogu se promatrati metodom tamnog polja. Takozvane ultramikroskopske čestice odnose se na one sićušne čestice koje su manje od granice rezolucije mikroskopa. Načelo osvjetljenja tamnog polja je: ne dopustite da glavno svjetlo osvjetljenja uđe u leću objektiva, a samo svjetlost raspršena česticama može ući u leću objektiva za snimanje. Stoga je slika svijetlih čestica dana na tamnoj pozadini. Iako je pozadina vidnog polja tamna, kontrast (kontrast) je vrlo dobar, što može poboljšati rezoluciju.
Osvjetljenje tamnog polja možemo podijeliti na jednosmjerno i dvosmjerno
(1) Jednosmjerno osvjetljenje tamnog polja Slika 8 je shematski dijagram jednosmjernog osvjetljavanja tamnog polja. Na slici se može vidjeti da nakon što se svjetlost koju emitira iluminator 2 reflektira od neprozirne ploče uzorka 1, glavna svjetlost ne ulazi u leću objektiva 3, a svjetlost koja ulazi u leću objektiva uglavnom je raspršena česticama ili neravnomjerno pojedinosti. Očito, ovo jednosmjerno osvjetljenje tamnog polja je učinkovito za promatranje postojanja i kretanja čestica, ali nije učinkovito za reprodukciju detalja objekata, odnosno postoji fenomen "distorzije".
(2) Dvosmjerno osvjetljenje tamnog polja Dvosmjerno osvjetljenje tamnog polja može eliminirati defekt izobličenja uzrokovan jednosmjernim. Ispred uobičajenog kondenzora s tri leće postavite prstenastu dijafragmu, kao što je prikazano na slici 9, kako biste ostvarili dvosmjerno osvjetljenje tamnog polja. Tekućina je uronjena između zadnjeg dijela kondenzora i stakla objektiva, dok je prostor između pokrovnog stakla i leće objektiva suh. Stoga je instrument za metalografsku analizu opremljen prijenosom i epi-tipom osvjetljenja mikroskopa, a prstenasta zraka koja prolazi kroz kondenzator potpuno se reflektira u pokrovnom staklu i ne može ući u leću objektiva, tvoreći krug kao što je prikazano na slici . Samo svjetlost raspršena česticama na uzorku ulazi u leću objektiva, tvoreći dvosmjerno osvjetljenje tamnog polja. Za druge srodne instrumente kao što su analizator rastaljenog željeza, analizator ugljičnog silicija itd., obratite se Odjelu za tehnologiju Tongpu.
