Koje se tvari uglavnom koriste za promatranje skenirajućim elektronskim mikroskopima?
Pretražni elektronski mikroskop (SEM) izumljen je 1965. i uglavnom se koristi za istraživanje stanične biologije. Uglavnom koristi oslikavanje sekundarnog elektronskog signala za promatranje površinske morfologije uzorka, odnosno koristi izuzetno uzak elektronski snop za skeniranje uzorka. Interakcija s uzorkom proizvodi različite učinke, među kojima su glavni sekundarni elektroni uzorka.
Sekundarni elektroni mogu proizvesti uvećanu topografsku sliku površine uzorka. Ova slika se uspostavlja u vremenskom slijedu kada se uzorak skenira, to jest, uvećana slika se dobiva korištenjem snimanja točka po točka.
Pretražna elektronska mikroskopija (SEM) je mikroskopska metoda promatranja morfologije između transmisijske elektronske mikroskopije i optičke mikroskopije. Može izravno koristiti svojstva materijala površinskih materijala uzorka za mikroskopsko snimanje. Prednosti skenirajućeg elektronskog mikroskopa su: ① Ima veliko povećanje, koje se kontinuirano podešava između 20 i 200,000 puta; ② Ima veliku dubinsku oštrinu, veliko vidno polje i trodimenzionalnu sliku te može izravno promatrati neravne površine različitih uzoraka. Fina struktura; ③ Priprema uzorka je jednostavna. Sadašnji pretražni elektronski mikroskopi opremljeni su uređajima za energetski spektrometar X-zraka, koji mogu istovremeno promatrati morfologiju mikrostrukture i analizu komponenti mikroregije (tj. SEM-EDS), tako da je danas jedan od najvažnijih znanstveno-istraživačkih instrumenata.
⑴ Biologija: sjemenke, pelud, bakterije...
⑵Medicina: krvne stanice, virusi...
⑶Životinje: debelo crijevo, resice, stanice, vlakna...
⑷Materijali [1]: Keramika, polimeri, prah, metali, metalni uključci, epoksidna smola...
⑸Kemija, fizika, geologija, metalurgija, minerali, mulj (bacili), strojevi, motori i vodljivi uzorci, kao što su poluvodiči (IC, mjerenje širine linije, poprečni presjek, promatranje strukture...) elektronički materijali, itd.
