Zašto je rezolucija elektronskog mikroskopa mnogo veća od rezolucije optičkog mikroskopa?
Budući da elektronski mikroskopi koriste elektronske zrake, a optički mikroskopi vidljivu svjetlost, a valna duljina elektronskih zraka je kraća od valne duljine vidljive svjetlosti, razlučivost elektronskih mikroskopa mnogo je veća od one optičkih mikroskopa.
Razlučivost mikroskopa povezana je s kutom upadnog stošca i valnom duljinom snopa elektrona koji prolazi kroz uzorak.
Valna duljina vidljive svjetlosti je oko 300 do 700 nanometara, a valna duljina snopa elektrona povezana je s naponom ubrzanja. Prema načelu dualnosti val-čestica, valna duljina elektrona velike brzine je kraća od valne duljine vidljive svjetlosti, a razlučivost mikroskopa ograničena je korištenom valnom duljinom. Stoga je razlučivost elektronskog mikroskopa (0,2 nanometra) znatno veća od razlučivosti optičkog mikroskopa. (200 nm).
Primjena tehnologije elektronske mikroskopije temelji se na optičkom mikroskopu. Razlučivost optičkog mikroskopa je {{0}}.2μm, a razlučivost transmisijskog elektronskog mikroskopa je 0.2nm. Naime, prijenosni elektronski mikroskop ima povećanje od 1000 na temelju optičkog mikroskopa. puta.
Iako je razlučivost elektronske mikroskopije mnogo veća od one optičke mikroskopije, ona ima neke nedostatke:
1. U elektronskom mikroskopu uzorak se mora promatrati u vakuumu, pa se živi uzorci ne mogu promatrati. S napretkom tehnologije, ekološka skenirajuća elektronska mikroskopija postupno će omogućiti izravno promatranje živih uzoraka;
2. Prilikom obrade uzorka mogu se proizvesti strukture koje uzorak izvorno nema, što otežava kasniju analizu slike;
3. Zbog izuzetno jake sposobnosti raspršenja elektrona, sklona je pojava sekundarne difrakcije;
4. Budući da se radi o dvodimenzionalnoj projekcijskoj slici trodimenzionalnog objekta, ponekad slika nije jedinstvena;
5. Budući da transmisijski elektronski mikroskopi mogu promatrati samo vrlo tanke uzorke, struktura površine tvari može se razlikovati od strukture unutrašnjosti tvari;
6. Za ultratanke uzorke (ispod 100 nanometara), postupak pripreme uzorka je složen i težak, a priprema uzorka može biti oštećena;
7. Elektronska zraka može uništiti uzorak zbog sudara i zagrijavanja;
8. Cijena nabave i održavanja elektronskog mikroskopa je relativno visoka.
